沃特世 飛行時(shí)間質(zhì)譜Xevo G2-XS Tof

廣州深華公司提供的沃特世Xevo G2-XS Tof 飛行時(shí)間質(zhì)譜質(zhì)量過(guò)硬，物美價(jià)廉。

型號：Xevo G2-XS Tof

產(chǎn)品描述：

根據科學(xué)家的需求量身定制，幫助鑒定、定量和確認最具挑戰性的復雜樣品中種類(lèi)多樣的化合物。

保證卓越性能的同時(shí)最大化提升穩定性

最全面的高質(zhì)量定性信息

靈活應對多變需求

簡(jiǎn)單易用，專(zhuān)業(yè)和非專(zhuān)業(yè)人士均可輕松上手

可升級至完整的QTof全功能版本

保證卓越性能的同時(shí)最大化提升穩定性

樣品和研究的復雜程度日趨增加，要在保持最佳分析性能的同時(shí)獲得高質(zhì)量的目標組分數據則面臨著(zhù)更大的難度。

Xevo G2-XS Tof結合StepWave離子光學(xué)組件和XS碰撞室技術(shù)，保持著(zhù)一如既往的良好選擇性，同時(shí)帶來(lái)靈敏度的顯著(zhù)提升。長(cháng)時(shí)分析期間，關(guān)鍵的硬件組件可持久保持潔凈，為您提供更重現性的結果，保證實(shí)驗室生產(chǎn)效率。

分析大量樣品時(shí)，可獲取比以往更多、更有意義的組分信息，幫助您全面深入了解樣品，制定更可靠的決策。

最全面的高質(zhì)量定性信息

本系統可在短時(shí)間內收集充分了解樣品所需的詳盡、準確的各目標組分定性及定量信息，完整展現出現代分離技術(shù)的優(yōu)勢。

MSE方法雖然簡(jiǎn)單，但功能強大，無(wú)論可檢測組分在色譜上是否可分離，此方法都能夠確定出精確的母離子質(zhì)量數和碎片離子數據，為您帶來(lái)最優(yōu)質(zhì)的定性信息，這些數據還將提供準確的定量信息。由于該方法無(wú)靶向性，因此隨著(zhù)科學(xué)問(wèn)題的發(fā)展，您可在以后重新查詢(xún)使用這些數據。

靈活應對多變需求

實(shí)驗室對效率和產(chǎn)量的日益重視對分析系統提出了更高的要求，不僅需要系統具備良好的耐用性和可靠性，也應當能夠靈活應對現今的各種任務(wù)，才能在未來(lái)實(shí)現創(chuàng )新發(fā)展。

沃特世通用型離子源結構可以將單一分析平臺用于多種不同應用和化合物類(lèi)型，并可以根據需求和優(yōu)先情況的變化添加新的功能。所有的離子源選項經(jīng)過(guò)精心設計，可以實(shí)現快速互換，輕松完成使用前準備，為您帶來(lái)最全面的系統功能，最大程度減少停機時(shí)間。

簡(jiǎn)單易用，專(zhuān)業(yè)和非專(zhuān)業(yè)人士均可輕松上手

通常，要使如此強大的分析系統實(shí)現并保持最佳性能，往往需要具備一定的專(zhuān)業(yè)知識和經(jīng)驗。

Xevo G2-XS Tof采用了獨特的IntelliStart技術(shù)，這一直觀(guān)的用戶(hù)界面可實(shí)現日常任務(wù)的自動(dòng)化，保證了出色的可重現數據，確保所有人都可以使用系統的所有功能。IntelliStart可自動(dòng)執行以下基本功能：

MS分辨率和校正檢查

輕松設置各種實(shí)驗

定期LC/MS系統檢查

持續進(jìn)行系統監測

可升級至完整的QTof全功能版本

為應對日益增長(cháng)的需求與挑戰，Xevo G2-XS Tof可直接升級至QTof全功能版本，而對實(shí)驗室的繁忙工作并不會(huì )產(chǎn)生多大影響。該升級操作可進(jìn)一步增強分析系統的分析性能與多功能性：

在現實(shí)的日常實(shí)驗室條件下，Tof-MRM分析結果大大優(yōu)于以往使用高分辨率MS所獲得的檢測限和定量限，提供業(yè)內領(lǐng)先的定量性能。

自動(dòng)化靶向性數據采集技術(shù)FastDDA具備快速、智能的精確質(zhì)量數MS/MS功能，可用于確認已知化合物或鑒定未知化合物，適用于只有真正的MS/MS數據才符合要求的情況。

專(zhuān)業(yè)的深華公司提供專(zhuān)業(yè)的產(chǎn)品、專(zhuān)業(yè)的售前、售中、售后服務(wù)，將使您的工作能夠收到事半功倍的效果。