沃特世 離子淌度質(zhì)譜Vion IMS QTof

廣州深華公司提供的沃特世Vion IMS QTof 離子淌度質(zhì)譜質(zhì)量過(guò)硬，物美價(jià)廉。

型號：Vion IMS QTof

產(chǎn)品描述：

高分辨率、準確的質(zhì)譜數據是否一定會(huì )第一時(shí)間得出正確結果？使用離子淌度選擇性可以無(wú)需再運行額外的確認實(shí)驗。Vion IMS QTof具有新型幾何構造，包含XS Ion Optics和QuanTof2檢測系統，它的靈敏度和動(dòng)態(tài)范圍可使離子淌度定量功能用于日常分析，從而實(shí)現：

●由于離子淌度對每份譜圖進(jìn)行簡(jiǎn)化，從而數據解析更加輕松

●分析物的鑒定和定量結果更加可靠

●方法開(kāi)發(fā)更快，樣品通量更高

●與使用HDMSE的常規MS/MS相比，選擇性更佳

清晰度佳 - 數據解析更輕松

有了Vion IMS QTof，您可以使用離子淌度的選擇性快速優(yōu)化譜圖，并減少色譜分離時(shí)產(chǎn)生的共流出物和背景干擾，讓您的化合物鑒定工作更可靠。

分析物的鑒定和定量結果更加可靠

能夠收集和處理每個(gè)離子的CCS（碰撞截面積）數據，這使您對數據擁有前所未有的信心。Vion IMS Qtof基于UNIFI科學(xué)信息系統，可提供最全面的分析工作流程，使您能夠在同一個(gè)軟件平臺上定位、鑒定和審核結果，從而更快更明智地做出決策。CCS提供不受色譜保留時(shí)間限制的數據點(diǎn)，可使您充滿(mǎn)信心地鑒定分析物，并降低假陽(yáng)性和假陰性的風(fēng)險。即使是在樣品分析的初期階段，您沒(méi)有任何關(guān)于保留時(shí)間的信息，也可以使用精確的理論質(zhì)量數和CCS數據值來(lái)鑒定未知的和意料之外的化合物。

方法開(kāi)發(fā)更快，樣品通量更高

Vion IMS Qtof功能強大，集50,000質(zhì)量數分辨率、高靈敏度、低于1 ppm的質(zhì)量準確度和加強的定量性能于一身。數據采集方法使用離子淌度作為標準，操作起來(lái)簡(jiǎn)單直接。行業(yè)領(lǐng)先的UNIFI軟件通過(guò)高效的數據采集和處理程序快速存取結果，顯著(zhù)緩解了數據處理的瓶頸。UNIFI還可以讓您快速輕松地創(chuàng )建和共享綜合報告。

在一次實(shí)驗中即可獲得所需的所有數據

MSE在記錄數據時(shí)不會(huì )對數據進(jìn)行區別和預篩選。因此，您的樣品被完全納入一個(gè)分析中。如果沒(méi)有離子淌度分離的選擇性，要完全確認子離子和母離子之間的關(guān)系就需要進(jìn)行專(zhuān)門(mén)的MS/MS實(shí)驗。

有了Vion IMS QTof，現在就能夠在臺式QTof上實(shí)現HDMSE無(wú)限的碎片離子采集模式。這種非數據依賴(lài)型的采集模式使用離子淌度選擇性對母離子和碎片離子進(jìn)行時(shí)間關(guān)聯(lián)，實(shí)現所有已檢測到化合物的MS/MS特異性。與DDA方法相比，該采集模式所需的設置時(shí)間更短，并且由于所有數據均可在一次分析中完成采集，因此無(wú)需重復采集。在一次分析中采集所有數據，再結合離子淌度的額外特異性，使您可以充滿(mǎn)信心地做出更快更好的決策。

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