我國引進(jìn)首臺納米離子探針儀器通過(guò)驗收

　　我國引進(jìn)的第一臺NanoSIMS50L型納米離子探針驗收會(huì )于2011年3月14日在中國科學(xué)院地質(zhì)于地球物理研究所召開(kāi)。副所長(cháng)吳福元研究員為組長(cháng)的專(zhuān)家組認真聽(tīng)取了法國CAMECA公司納米離子探針設計師、FrançoisHillion博士所作的驗收報告。專(zhuān)家組對儀器的驗收指標有關(guān)問(wèn)題進(jìn)行了提問(wèn)，一致認為該儀器的技術(shù)參數不僅全部達到合同要求，大部分還優(yōu)于合同要求的驗收指標。

　　納米離子探針具有極高的空間分辨率(Cs 源束斑小于50nm，O-源束斑小于200nm)，與我所已有的CAMECAims1280高精度離子探針互補，構成國際上非常先進(jìn)的的離子探針?lè )治銎脚_。新引進(jìn)的NanoSIMS50L型納米離子探針配置了7個(gè)信號檢測器(每個(gè)配置法拉第杯和電子倍增器)，可以同時(shí)測量7個(gè)同位素(或元素)，分析精度好于千分之一。該儀器可以分析除稀有氣體以外，元素周期表中從H至U的全部同位素(元素)，并能獲取同位素分布的高分辨圖像。納米離子探針的引進(jìn)，為我國比較行星學(xué)、地球科學(xué)、材料科學(xué)、以及生命科學(xué)等領(lǐng)域提供了新的大型實(shí)驗分析平臺。