正置金相顯微鏡和倒置金相顯微鏡應用上的區別

正置金相顯微鏡和倒置金相顯微鏡應用上的區別

正置式和倒置式的區別簡(jiǎn)單的說(shuō)就是，正置的樣品放在下面，倒置的樣品放在上面。正置的物鏡向下，倒置的物鏡向上。

倒置金相顯微鏡 ，由于試樣觀(guān)察面向下與工作臺表面重合，觀(guān)察物鏡位于工作臺的下面，向上觀(guān)察，這種觀(guān)察形式不受試樣高度的限制，在制備試樣時(shí)只要一個(gè)觀(guān)察面平整，因此工廠(chǎng)實(shí)驗室、科研機構院校教學(xué)普遍選用。倒置金相顯微鏡底座支承面積較大，重心較低，安全平穩可靠，目鏡與支承面呈45℃傾斜，觀(guān)察舒適。

正置金相顯微鏡 具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能，除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，因為符合人的日常習慣，因此更廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。正置金相顯微鏡在觀(guān)察時(shí)成像為正像，這對使用者的觀(guān)察與辨別帶來(lái)了極大的方便。除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，大于3微米小于20微米觀(guān)察目標，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有很好的成像效果。