常用鏡檢法的調置

　　隨著(zhù)近代光學(xué)技術(shù)的發(fā)展以及微電子、計算機技術(shù)的融合，賦予光學(xué)顯微鏡以新的生命力。在掌握必要的顯微鏡及其各種鏡檢法的理論知識基礎上，精確進(jìn)行調試、校準和定期維護，對于保證顯微鏡技術(shù)的有效利用和觀(guān)測質(zhì)量尤為重要。對于鏡檢法操作過(guò)程中常易疏漏的調制環(huán)節我們來(lái)作為重點(diǎn)討論一下。

　　1 明場(chǎng)(bright field, BF)

　　定期進(jìn)行聚光鏡中心調整，實(shí)時(shí)進(jìn)行聚光鏡與物鏡NA的對應數值調設。清潔蓋玻片、載玻片，確保沒(méi)有手印、沾染物。使用油鏡時(shí)，調焦或移動(dòng)視野要慢些以維持浸油形成的表面張力保證對焦和孔鏡角穩定，兼做熒光觀(guān)察的物鏡最好統一用無(wú)熒光油。

　　2 暗場(chǎng)(dark field, DF)

　　暗場(chǎng)鏡檢首先是利用暗場(chǎng)聚光鏡的環(huán)狀裂隙和凹面鏡制造有序的斜射光，因此必須調整好光軸對中。要清潔物鏡的前透鏡等光學(xué)器件和標本片，載玻片不能太厚，否則聚光鏡的焦點(diǎn)落到被檢物體焦面以外。

　　3 相差(phase contrast, PH)

　　鏡檢前，要用調中鏡(centering telescope，CT)逐一檢查物鏡的相板與所對應的聚光鏡相差環(huán)是否達到光學(xué)共軛，即聚光鏡相差環(huán)環(huán)狀光闌像的透明圈與物鏡相板共軛面完全吻合，才能達到理想的相差效果。一般情況下，聚光鏡的孔徑光闌應適當開(kāi)大或設置在標定PH位。切片控制在5～10μm厚度，封片劑要均勻。

　　4 DIC相差(differential interference contrast, DIC)

　　標本或器皿要潔凈無(wú)塵，必須事先調整好起偏鏡、檢偏鏡和DIC棱鏡的設置，用CT鏡檢測出現清晰的干涉條紋。但兼做熒光觀(guān)察時(shí)，要把DIC器件移出光路，以避免較強的激發(fā)光損傷DIC器件的光學(xué)鍍膜。塑料器皿最好選擇Hoffman調制相差(Hoffman modulationcontrast，HMC)。

　　5 熒光(fluorescence，FL)

　　需遵循說(shuō)明書(shū)熟練掌握熒光光源的燈絲對中方法，當熒光照明不均或亮度不佳時(shí)進(jìn)行檢查調整，特別是在移動(dòng)了熒光顯微鏡位置、過(guò)度振動(dòng)、誤觸碰了聚光和對中調節螺桿等情形后。在研究室熒光裝置最好在視場(chǎng)光闌的基礎上加配置孔徑光闌調節，并定期檢查熒光激發(fā)光路中心，根據標本情況調節孔徑光闌和光路聚焦。汞燈在開(kāi)啟約5分鐘后達到最佳弧光照明亮度，一旦關(guān)閉必須等15～20分鐘后方可再次開(kāi)啟(待汞蒸汽復至常態(tài))。