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    電工電子產(chǎn)品試驗標準目錄

    [2013/3/15]

      1.GB/T2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第1部分:總則

      2.GB/T2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 術(shù)語(yǔ)

      3.GB/T2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗A:低溫試驗方法

      4.GB/T2423.2-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗B:高溫試驗方法

      5.GB/T2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法

      6.GB/T2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Db:交變濕熱試驗方法

      7.GB/T2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導則:沖擊

      8.GB/T2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導則:碰撞

      9.GB/T2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec和導則:傾跌與翻倒(主要用于設備型樣品)

      10.GB/T2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落

      11.GB/T2423.9-1989 電工電子產(chǎn)品環(huán)境基本環(huán)境試驗規程 試驗Cb:設備用恒定濕熱試驗方法

      12.GB/T2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc和導則:振動(dòng)(正弦)

      13.GB/T2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fd:寬頻帶隨要振動(dòng)-一般要求

      14.GB/T2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fda:寬頻帶隨機振動(dòng)-高再現性

      15.GB/T2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fdb:寬頻帶隨機振動(dòng)-中再現性

      16.GB/T2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fdc:寬頻帶隨機振動(dòng)-低再現性

      17.GB/T2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ga和導則:穩態(tài)加速度

      18.GB/T2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J和導則 長(cháng)霉

      19.GB/T2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Ka:鹽霧試驗方法

      20.GB/T2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗 試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)

      21.GB/T2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本試驗規程 試驗Kc:接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗方法

      22.GB/T2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Kd:接觸點(diǎn)和連接件的硫經(jīng)氫試驗方法

      23.GB/T2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗M:低氣壓試驗方法

      24.GB/T2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗N:溫度變化試驗方法

      25.GB/T2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Q:密封

      26.GB/T2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Sa:模擬地面上的太陽(yáng)輻射

      27.GB/T2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗

      28.GB/T2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗

      29.GB/T2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗方法

      30.GB/T2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗T:錫焊試驗方法

      31.GB/T2423.29-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗U:引出端及整體安裝件強度

      32.GB/T2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗XA和導則:在清洗劑中浸漬

      33.GB/T2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 傾斜和搖擺試驗方法

      34.GB/T2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 潤濕稱(chēng)量法可焊性試驗方法

      35.GB/T2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗方法

      36.GB/T2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法

      37.GB/T2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗

      38.GB/T2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Z/Bfc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗方法

      39.GB/T2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗L:砂塵試驗方法

      40.GB/T2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗R:水試驗方法

      41.GB/T2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Ee:彈跳試驗方法

      42.GB/T2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

      43.GB/T2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 風(fēng)壓試驗方法

      44.GB/T2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 低溫/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗方法

      45.GB/T2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 元件、設備和其他產(chǎn)品在沖擊(Ea)、碰撞(Eb)、振動(dòng)(Fc和Fd)和穩態(tài)加速度(Ga)等動(dòng)力學(xué)試驗中的安裝要求和導則

      46.GB/T2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eg:撞擊 彈簧錘

      47.GB/T2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABDM:氣候順序

      48.GB/T2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ef:撞擊 擺錘

      49.GB/T2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fg:聲振

      50.GB/T2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ff:振動(dòng)-時(shí)間歷程法

      51.GB/T2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fe:振動(dòng)-正弦拍頻法

      52.GB/T2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗

      53.GB/T2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ke:流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗

      54.GB/T2424.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 高溫低溫試驗導則

      55.GB/T2424.2-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 濕熱試驗導則

      56.GB/T2424.10-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 大氣腐蝕加速試驗的通用導則

      57.GB/T2424.11-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗導則

      58.GB/T2424.12-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗導則

      59.GB/T2424.13-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 溫度變化試驗導則

      60.GB/T2424.14-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 太陽(yáng)輻射試驗導則

      61.GB/T2424.15-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 溫度/低氣壓綜合試驗導則

      62.GB/T2424.17-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 錫焊試驗導則

      63.GB/T2424.19-1984 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 模擬貯存影響的環(huán)境試驗導則

      64.GB/T2424.20-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 傾斜和搖擺試驗導則

      65.GB/T2424.21-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 潤濕稱(chēng)量法可焊性試驗導則

      66.GB/T2424.22-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 溫度(低溫、高溫)和振動(dòng)(正弦)綜合試驗導則

      67.GB/T2424.23-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 水試驗導則

      68.GB/T2424.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗導則

      69.GB/T2424.25-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分:試驗導則 地震試驗方法

      70.GB/T10593.1-1989 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數測量方法 振動(dòng)

      71.GB/T10593.2-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數測量方法 鹽霧

      72.GB/T10593.3-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數測量方法 振動(dòng)數據處理和歸納

      73.GB/T8430-1998 紡織品 色牢度試驗 耐人造氣候色牢度:氙弧

      74.GB/T8427-1998 紡織品 色牢度試驗 耐人造光色牢度:氙弧

      75.GB/T1865-1997 色漆和清漆人工氣候老化和人工輻射暴露(濾過(guò)的氙弧輻射)

      76.GB/T16422.1-1999 塑料實(shí)驗室光源暴露試驗方法第一部分:通則

      77.GB/T16422.2-1999 塑料實(shí)驗室光源暴露試驗方法第二部分:氙弧燈

      78.GB/T12831-1991 硫化柏膠人工氣候(氙燈)老化試驗方法

      79.GB/T2951.1~2951.10-1997 電纜絕緣和護套材料通用試驗方法

      80.GB11606.1~17-89 分析儀器環(huán)境試驗方法

      81.GB12085.1~14 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法

      82.GB6808-86 鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化著(zhù)色陽(yáng)極氧化膜耐曬度的人造光加速試驗

      83.GB9868-88 柏膠獲得高于或低于常溫試驗溫度通則

      84.GB/T12584-90 柏膠或塑料涂覆的低溫沖擊試驗

      85.GB/T10125-1997 人造氣候腐蝕試驗 鹽霧試驗

      86.GB/T14710-93 醫用電氣設備環(huán)境要求及試驗方法

      87.GB/T17782-1999 硫化柏膠壓力空氣熱老化試驗方法

      88.GB/T7020-86 中空玻璃試驗方法

      89.GB/T3512-2001 硫化柏膠或熱塑柏膠熱空氣加速老化和耐熱試驗

      90.GB/T13951-92 移動(dòng)式平臺及海上設施用電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗一般要求

      100.GB11804-89 電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件術(shù)語(yǔ)

      101.GB4796-84 電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數分類(lèi)及其嚴酷程度分級

      102.GB4797.1-84 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 溫度和濕度

      103.GB4797.2-86 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 海撥與氣壓、水深與水壓

      104.GB4797.3-86 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 生物

      105.GB4797.4-89 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 太陽(yáng)輻射與溫度

      106.GB/T4794.5-92 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 降水和風(fēng)

      107.GB/T4797.6-1995 電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件 塵、沙、鹽霧

      108.GB/T4798.1-86 電工電子產(chǎn)品應用環(huán)境條件 貯存

      109.GB/T4798.2-1996 電工電子產(chǎn)品應用環(huán)境條件 運輸

      110.GB 4798.3-90 電工電子產(chǎn)品應用環(huán)境條件 有氣候防護場(chǎng)所固定使用

      111.GB 4798.4-90 電工電子產(chǎn)品應用環(huán)境條件 無(wú)氣候防護場(chǎng)所固定使用

      112.GB 4798.5-87 電工電子產(chǎn)品應用環(huán)境條件 地面車(chē)輛使用

      113.GB 4798.6-84 電工電子產(chǎn)品應用環(huán)境條件 船用

      114.GB 4798.7-87 電工電子產(chǎn)品應用環(huán)境條件 攜帶和非固定使用

      115.GB 4798.10-01 電工電子產(chǎn)品應用環(huán)境條件 導言

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