激光粒度儀進(jìn)行分檔測試的要點(diǎn)

　　本文簡(jiǎn)述了激光粒度儀分檔測試的原理與優(yōu)點(diǎn)，介紹了檔位的選擇與超量程的判斷方法。

　　匯聚光傅立葉變換光路，有人稱(chēng)作“反傅立葉變換光路”，本人認為稱(chēng)作“反傅立葉變換光路”理論依據不足。本文一律稱(chēng)作匯聚光路。

　　匯聚光路的的主要優(yōu)點(diǎn)有 ：1. 樣品池后置，克服了鏡頭有效孔徑對散射光的限制。

　　2. 大大縮短了儀器光路的長(cháng)度，減少了光學(xué)元件，提高儀器的可靠性。

　　3. 樣品池移動(dòng)，可以改變傅立葉變換系統的焦距，從而改變測量范圍，不需更換透鏡，做到一機多用。

　　4. 利于散射光散射角度增大，大大提高儀器分辨率。

　　對于一種未知粒度范圍的樣品選擇哪一檔測試呢?通常的方法是：先用任一檔測試。如果測試結果超量程，則改用更合適的量程測試。

　　超量程的判斷依據是，任何顆粒群的粒度分布曲線(xiàn)的高度都應該是從0開(kāi)始到0結束。在有限的測量范圍內，邊界顆粒的粒度分布如果大于0 ，則可認為該顆粒群超過(guò)測試范圍。

　　如果分布曲線(xiàn)在右側邊界大顆粒陡然下降，則說(shuō)明此樣品還有大顆粒超過(guò)量程，則應改變更大的檔量程重新再測。

　　如果測試結果中分布曲線(xiàn)在左方小顆粒邊界陡然下降，則說(shuō)明此樣品還有更小顆粒沒(méi)有測到。應改變更小一檔量程重新再測。

　　如果被測試的樣品很寬，試測時(shí)超上限，再測時(shí)超下限則可用微納公司提供的粒度分布合并程序，將兩次不同檔位的測試結果合并成為一個(gè)完整的粒度分布結果.