淺析進(jìn)行顆粒測試時(shí)出現的幾個(gè)基礎問(wèn)題

　　為了促進(jìn)顆粒測試技術(shù)的普及與繁榮，對如下幾個(gè)顆粒測試的基礎性問(wèn)題取得共識是必要的。

　　1)顆粒測試概念的內涵：顆粒測試應該包含顆粒幾何形態(tài)測試、顆粒物理特性測試、顆�；瘜W(xué)特性測試幾個(gè)方面.由于物理特性和化學(xué)特性測試技術(shù)與其他物質(zhì)形態(tài)的物理化學(xué)特性測試差別不大，因此顆粒特性測試往往專(zhuān)指幾何形態(tài)測試，主要包括顆粒大小及其分布測試，顆粒形狀參數測試，顆粒比表面測試，孔及其分布測試.

　　2) 顆粒測試的理論基礎應該是顆粒形狀與顆粒大小的表征.由于顆粒形狀的復雜性，因此顆粒的表征是一個(gè)很困難的工作，很多學(xué)者為此付出了長(cháng)期艱苦的工作，但是至今未見(jiàn)到一種表征方法為大多數行業(yè)所認可.但是有一點(diǎn)已經(jīng)取得共識的是用等效粒徑表示顆粒大小的概念已經(jīng)為大眾所接受：因此不同的原理的測試方法必然獲得不同的等效粒徑.只有球形顆粒，才能在不同的儀器上獲得相同的測試結果.這也是標準顆粒必須是球形的原因.

　　3)不同測試方法之間的比較問(wèn)題顯然與顆粒形狀有關(guān)，如果不限定顆粒形狀，泛泛比較兩種不同原理儀器的測試結果誰(shuí)是誰(shuí)非沒(méi)有意義.但是，對于同一種顆粒，用不同的原理測試，是有規律可循的.有的公司為此提供了專(zhuān)用數據轉換軟件，受到了歡迎，需要注意的是，這種轉換僅適用于同一種物質(zhì)、用相同的加工方法制備的形狀類(lèi)似的顆粒體系.

　　推論：既然顆粒大小測試與顆粒形狀有關(guān)，粒度儀利用不同原理測試同種顆粒產(chǎn)生的數據差異顯然可以提供顆粒形狀信息.利用此原理可能會(huì )產(chǎn)生一種實(shí)用的顆粒形狀測試方法和相關(guān)的儀器設備.

　　4)統一使用顆粒大小分級習慣術(shù)語(yǔ)：

　　納米顆粒1-100nm

　　亞微米顆粒0.1-1um

　　微粒、微粉1-100um

　　細粒、細粉100-1000um

　　粗�！�1mm

　　5)描述顆粒形狀時(shí)至少應提供的形狀參數：球形度、長(cháng)徑比(長(cháng)寬比)

　　6)用目數描述顆粒大小時(shí)應同時(shí)注明通過(guò)此篩孔的百分含量.如95%通過(guò)325目等等.

　　7)描述顆粒粒度分布時(shí)應同時(shí)注明分布類(lèi)型和測試原理.如：體積分布、重量分布、個(gè)數分布;激光衍射/散射、沉降法、電阻法、篩分法、圖像分析、動(dòng)態(tài)光散射、透氣法等等.以上幾個(gè)問(wèn)題如果能取得共識，技術(shù)交流時(shí)一定會(huì )方便很多.