如何使用金相顯微鏡觀(guān)察導電粒子

　　使用金相顯微鏡系列配合起偏，檢偏及DIC微分干涉，可以很好的觀(guān)察屏的導電粒子，確認導電粒子個(gè)數是否符合要求。

　　首先，需要觀(guān)察導電粒子必須要有配有DIC及起偏檢偏器的金相顯微鏡。對于觀(guān)察導電粒子來(lái)說(shuō)一般選用的鏡頭是要求為不超過(guò)20倍為最好，超過(guò)后會(huì )由于景深的問(wèn)題導致觀(guān)察效果模糊，無(wú)法觀(guān)察到最好的效果。

　　準備好金相顯微鏡及必要的屏后就可以開(kāi)始觀(guān)察導電粒子了。首先把DIC及起偏檢偏拉出，然后把屏放置在載物臺上，調整好焦距，通過(guò)載物臺移動(dòng)后找到觀(guān)察位置�，F在插入起偏及檢偏器，通過(guò)目鏡觀(guān)察屏上位置，再調節檢偏器，直到光線(xiàn)最黑時(shí)停止調節檢偏器。最后插入DIC,調節DIC進(jìn)行偏光直到看到導電粒子最清晰時(shí)就可以停止了。